جستجو در مقالات منتشر شده


2 نتیجه برای حسن شاه

مهدی حسن شاهیان، جعفر محمدیان،
دوره 10، شماره 4 - ( مقالات زیست شناسی 1389 )
چکیده

باکتری های نمک‌دوست قادر به رشد در محیط فاقد نمک نبوده و دارای بهینه‌ رشد در محیط‌هایی با میزان شوری نسبتاً بالا هستند. آرکی باکتری های فوق العاده نمک دوست، شیمیوارگانوتروف هستند و بیشتر گونه ها هوازی اجباری می باشند. باکتریورودوپسین یک پیگمان انتقال دهنده‌ی انرژی با استفاده از نور در غشای ارغوانی است، که تنها در نمک دوست ها یافت می‌شود. باکتری H. salinarum که در تحقیق قبلی از دریاچه نمک قم جداسازی شده بود، برای جداسازی و خالص سازی غشای ارغوانی بکار رفت. روش مورد استفاده جهت جداسازی غشای ارغوانی (PM) باکتری H. salinarum روش Yucel و همکاران (1995) بود که عمده مراحل این روش دیالیز باکتری و سانتریفوژ با دور بالا می باشد. مطالعات جذب نوری در nm 560 و بررسی نسبت جذب nm 560/280 جهت اثبات خلوص غشای ارغوانی استفاده شد. فعالیت تغییر pH غشای ارغوانی با محلول نمکی حاوی MgCl2 و KClسنجیده شد. به کمک دستگاه اشعه دهی امواج میکرووی میزان جذب امواج میکرووی توسط غشای ارغوانی اندازه گیری شد. نتایج حاصل از جداسازی غشای ارغوانی نشان داد که نسبت جذب 560/280 در این طیف برابر 3/3 می‌باشد که دلالت بر خلوص غشای ارغوانی جداسازی شده دارد. میزان 35 میلی‌گرم غشای ارغوانی از 4 لیتر محیط کشت حاصل گردید. غشای خالص شده دارای فعالیت بود بطوریکه به ازای هر 6 ساعت میزان 15/0 واحد کاهش pH در سوسپانسیون دیده می شد. این غشای ارغوانی میزان 60 درصد از امواج میکرووی را جذب می کرد. در مجموع می‌توان چنین نتیجه‌گیری نمود که تنوع گسترده‌ای در آرکی‌باکتری‌های فوق‌العاده نمک دوست در اکوسیستم‌های ایران وجود دارد و می توان از باکتریورودوپسین حاصله در اهداف نانوتکنولوژی استفاده نمود.
محمد ابراهیم قاضی، مهدی حسن شاه، بهرام بهرامیان، محمد حسین احسانی،
دوره 12، شماره 4 - ( 11-1391 )
چکیده

ن
نیکلایت با فرمول عمومی  La2-xSrxNiO4و با در صد آلایش 33/0 x ≈ به روش سل- ژل تهیه شد. با تغییر در دمای بازپخت و پارامترهای رشد سعی شد ذراتی با اندازه‌‌های دانه متفاوت ایجاد شود. ساختار بلوری و خصوصیات فیزیکی آن‌ها به‌وسیلۀ تکنیک‌های طیف پراش پرتو X، تبدیل فوریه طیف عبوری مادون قرمز، طیف سنجی پاشندگی انرژی پرتو X ساطع شده، میکروسکوپ الکترونی روبشی و اندازه‌گیری مقاومت الکتریکی با دما بررسی شد. نتایج XRD و بررسی مورفولوژی سطح نمونه‌ها با SEM نشان داد که کمترین دمای بازپختی که در آن فاز خالص تتراگونال مورد نظر تشکیل می‌شود، 920 درجۀ سانتی‌گراد است. با افزایش دمای بازپخت، اندازۀ بلورک‌ها از nm50 تا mm2 افزایش یافت. اندازه‌گیری طیف عبور اپتیکی (FTIR) نمونه‌ها نشان داد طول پیوند Ni-O در نمونۀ دارای اندازۀ بلورک کوچک‌تر، کوتاه‌تر است که این نتیجه در تطابق با کاهش ثابت‌های شبکه a و c با کاهش دمای بازپخت و اندازۀ بلورک‌ها است. نتایج اندازه‌گیری‌های مقاومت الکتریکی با دما نشان داد که دمای نظم بار با کاهش اندازه ذرات کاهش می‌یابد.

صفحه 1 از 1     

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به نشریه علوم دانشگاه خوارزمی می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2024 CC BY-NC 4.0 | Quarterly Journal of Science Kharazmi University

Designed & Developed by : Yektaweb